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光澤度儀原理： 　光澤度儀又被稱(chēng)為光澤儀、測(cè)光器測(cè)光儀、光澤度測(cè)量?jī)x,　光澤度測(cè)定儀、光澤度測(cè)試儀、光澤度檢測(cè)儀、光澤度試驗(yàn)儀和光潔度測(cè)量?jī)x是測(cè)量物體表面光澤度的儀器。廣泛用于化工原料、涂料制造、航天工業(yè)、汽車(chē)工業(yè)、船舶工業(yè)、電子行業(yè)、電器行業(yè)、IT通信等配套的測(cè)量?jī)x器?！　」鉂啥扰c機(jī)械加工行業(yè)的“光潔度”或“粗糙度”的概念完全不同，后者是針對(duì)材料表面微小不平度的評(píng)定?！　」庠瓷涑鲆皇饨?jīng)過(guò)透鏡L1到達(dá)被測(cè)面P，被測(cè)面將光反射到透鏡L2，透鏡L2將光束會(huì)聚到位于光欄B處的光電池處，光電池進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換后，將電信號(hào)送往處理電路進(jìn)行處理，后儀器顯示測(cè)量結(jié)果。需要留意的是，在整個(gè)光澤度丈量過(guò)程中，默認(rèn)光源的光是很穩(wěn)定的，不會(huì)發(fā)生變化。

鏡像光澤度是對(duì)鏡向光澤的相對(duì)測(cè)量。參照標(biāo)準(zhǔn)是以折射率np=1.567的黑玻璃，假設(shè)其平面在得到理想拋光的狀態(tài)下，由該平面對(duì)自然光束進(jìn)行鏡向反射，并定義此時(shí)的光澤度值為100.0光澤單位。 光澤度板按光澤度值又分為高、中、低三種。高光澤度板由黑色光學(xué)玻璃或他材料制成。中光澤度板和低光澤度板由涂釉陶瓷或黑色光學(xué)玻璃磨砂制成。 光澤度計(jì)利用光反射原理對(duì)樣品的光澤度進(jìn)行測(cè)量。即：在規(guī)定入射角和規(guī)定光束的條件下照射樣品，得到鏡向反射角方向的反射光。

目前涂層測(cè)厚儀(膜厚儀）所采用的原理基本是以下幾種： 1. 性測(cè)厚法：利用射線穿透檢測(cè)。此類(lèi)儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬(wàn)以上）。適用于一些特殊環(huán)境，各項(xiàng)技術(shù)參數(shù)要求相對(duì)比較高，使用范圍相對(duì)狹窄。 2. 超聲波測(cè)厚法：利用超聲波頻率變化檢測(cè)。適用于多層涂層厚度的測(cè)量。一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高，國(guó)內(nèi)暫時(shí)還沒(méi)有投入生產(chǎn)。 3. 微波激光測(cè)厚法：正在研發(fā)中。 4. 電解測(cè)厚法：需要破壞涂層，屬于有損檢測(cè)，基本上已棄用。 5. 渦流測(cè)厚法：利用渦流原理檢測(cè)。適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。也就是我們一般所說(shuō)的鋁基膜厚儀。 6. 磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁是否會(huì)的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。也就是我們一般所說(shuō)的鐵基膜厚儀，這種方法測(cè)量結(jié)果精度高。 目前國(guó)內(nèi)的涂層測(cè)厚儀基本是采用渦流測(cè)厚法或磁性測(cè)厚法或二者相結(jié)合的原理。